ਸੈਕੰਡਰੀ ਚਿੱਤਰ ਵੱਖਰਾ ਟੈਸਟ ਸਿਸਟਮ - ਲੈਬ ਸੰਸਕਰਣ

ਛੋਟਾ ਵਰਣਨ:

ਸੈਕੰਡਰੀ ਚਿੱਤਰ ਵੱਖ ਕਰਨ ਦੀ ਜਾਂਚ ਪ੍ਰਣਾਲੀ ਇੱਕ ਸੁਤੰਤਰ ਮਾਪ ਪ੍ਰਣਾਲੀ ਹੈ ਜੋ ਕੈਮਰਾ ਖੇਤਰ ਅਤੇ ਸ਼ੀਸ਼ੇ ਦੇ ਹੋਰ ਖੇਤਰਾਂ ਵਿੱਚ ਚਿੱਤਰ ਵੱਖ ਕਰਨ ਦੀ ਖੋਜ ਨੂੰ ਚਲਾਉਂਦੀ ਹੈ।
ਸੈਕੰਡਰੀ ਇਮੇਜ ਸੈਪਰੇਸ਼ਨ ਟੈਸਟ ਸਿਸਟਮ-ਲੈਬ ਵਰਜ਼ਨ ਵਿਜ਼ਨ ਸਿਸਟਮ ਮਾਰਗਦਰਸ਼ਨ ਨਾਲ ਨਿਰਧਾਰਤ ਇੰਸਟਾਲੇਸ਼ਨ ਐਂਗਲ 'ਤੇ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਦੇਖਣ ਵਾਲੇ ਕੋਣਾਂ 'ਤੇ ਸਮਰਪਿਤ ਬਿੰਦੂਆਂ ਦੇ ਸੈਕੰਡਰੀ ਇਮੇਜ ਸੈਪਰੇਸ਼ਨ ਮੁੱਲ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਸਿਸਟਮ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਨੂੰ ਪਾਰ-ਸੀਮਾ ਅਲਾਰਮ, ਰਿਕਾਰਡ, ਪ੍ਰਿੰਟ, ਸਟੋਰ ਅਤੇ ਨਿਰਯਾਤ ਦਿਖਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।

ਸਾਨੂੰ ਈਮੇਲ ਭੇਜੋ

ਉਤਪਾਦ ਵੇਰਵਾ

ਉਤਪਾਦ ਟੈਗ

ਨਿਰਧਾਰਨ

ਮੁੱਢਲੇ ਮਾਪਦੰਡ

ਨਮੂਨੇ

ਨਮੂਨਾ ਆਕਾਰ ਸੀਮਾ: 1.9*1.6m/1.0*0.8m (ਅਨੁਕੂਲਿਤ)

ਨਮੂਨਾ ਲੋਡਿੰਗ ਐਂਗਲ ਰੇਂਜ: 15°~75° (ਨਮੂਨਾ ਆਕਾਰ, ਲੋਡਿੰਗ ਐਂਗਲ ਰੇਂਜ, ਮਾਪਣ ਰੇਂਜ, ਅਤੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਸਿਸਟਮ ਮੂਵਮੈਂਟ ਰੇਂਜ ਨੂੰ ਲੋੜਾਂ ਅਨੁਸਾਰ ਅਨੁਕੂਲਿਤ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।)

ਦੇਖਣ ਵਾਲਾ ਕੋਣ ਰੇਂਜ: ਖਿਤਿਜੀ ਕੋਣ-15°~15°, ਲੰਬਕਾਰੀ ਕੋਣ-10°~10° (ਅਨੁਕੂਲਿਤ)

ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ

ਸਿੰਗਲ ਪੁਆਇੰਟ ਟੈਸਟ ਦੁਹਰਾਉਣਯੋਗਤਾ: 0.4' (ਸੈਕੰਡਰੀ ਚਿੱਤਰ ਵੱਖ ਕਰਨ ਵਾਲਾ ਕੋਣ <4'), 10% (4'≤ ਸੈਕੰਡਰੀ ਚਿੱਤਰ ਵੱਖ ਕਰਨ ਵਾਲਾ ਕੋਣ <8'), 15% (ਸੈਕੰਡਰੀ ਚਿੱਤਰ ਵੱਖ ਕਰਨ ਵਾਲਾ ਕੋਣ≥8')

ਨਮੂਨਾ ਲੋਡਿੰਗ ਕੋਣ: 15°~75° (ਅਨੁਕੂਲਿਤ)

ਸੈਕੰਡਰੀ ਚਿੱਤਰ ਵੱਖਰਾ ਟੈਸਟ ਸਿਸਟਮਪੈਰਾਮੀਟਰ

ਮਾਪ ਸੀਮਾ: 80'*60'

ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਮੁੱਲ: 2'

ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ: 0.1'

ਰੋਸ਼ਨੀ ਸਰੋਤ: ਲੇਜ਼ਰ

ਵੇਵ ਲੰਬਾਈ: 532nm

ਪਾਵਰ: <20mw

Vਆਈਜ਼ਨSਸਿਸਟਮਪੈਰਾਮੀਟਰ

ਮਾਪ ਸੀਮਾ: 1000mm*1000mm

ਸਥਿਤੀ ਦੀ ਸ਼ੁੱਧਤਾ: 1mm

ਮਕੈਨੀਕਲ ਸਿਸਟਮ ਪੈਰਾਮੀਟਰ (ਅਨੁਕੂਲਿਤ)